点击图片查看原图：PID描述：
PID效应（potential Induced Degradation）全称电势诱导衰减，PID测试标准引自于IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules，测试要求是将组件置于 定的温度、湿度环境，将组件内部导电体与高压电源的 个 连接在 起，组件外导电体与高压电源的另 个 连接
二：PID电源技术规格：
2.1本PID电源具有8/12路通道输出，能够提供多个组件同时测试，电压可以连续调节，电压参数能够实时显示便于监控
2.2系统具备电流显示功能，且8/12路通道电流分别同时显示
2.3正负 性能 键切换，安全高效
2.4每个输出或输入通道端接孔必须便于连线的插拔（便捷，安全）
2.5组件边框接地，连接器短接后接高压端，负压试验及正压恢复时只需软件切换，不需改变连接方式（电源正 和电源负 能够实现无弧化转换）。模拟系统的正 接地或负 接地（能够实现pid测试及pid恢复测试）
2.6电源具有漏电流报警功能，报警可设置范围；（0~100微安/-100~0微安）
2.7可以设置测试时间，实验结束，电源系统自动停止
2.8标配：①PID电源 台（输入AC220V，给电源供电 ）②工控计算机 台（配置简单中文软件监控，漏电流实时记录，扫描间隔时间可通过软件设置，数据导出格式：Excel ）③组件边框连接线（8/12根），组件MC4连接器（12套）
2.9配件：PID测试专用高压线12套，用户手册，合格证
2.10设备尺寸:600*600*1600mm(L*W*H)
2.11控制电脑： DELL 19 寸显示器+研祥PIC810工业电脑
三、系统介绍：
软件控制
u 8/12通道PID测试系统，仅供参考；
u 系统能够同时显示每 路的电流和电压值和曲线；
u 用户可以根据实验需要设定系统的启动/停止时间；
u 具备与环境试验箱通讯接口：当环境试验箱发生故障时，环境电源会自动接收到环境试验箱的故障信息；软件会强制电源系统输出为“0”，避免由于双系统的不协调导致测试样品的损坏和设备的安全性。
四、 测试流程
本系统可以满足不同技术路线光伏组件的PID测试，可以同时满足：IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules 标准要求中的PID Stress test method (a)和PID Stress test method (b)
五、安全保护功能
5.1过电流报警：当有 路漏电流超过1mA时，系统软件会强制电源系统输出为“0”，保证测试人员生命安全
5.2过压报警：当有 路电压超过设定值的10%时，系统软件会强制电源系统输出为“0”，保证测试人员生命安全
5.3超温报警：当系统运行温度超过60℃是时，系统软件会强制电源系统输出为“0”，保证测试人员生命安全
5.4与环境试验箱通讯接口：当环境试验箱发生故障时，环境电源会自动接收到环境试验箱的故障信息。软件会强制电源系统输出为“0”，避免由于双系统的不协调导致测试样品的损坏和设备的安全性
六、产品售后支持
6.1设备到货后我方将派出专职工程师在贵公司按下列计划进行培训，保证操作人员达到以下要求：
u 操作人员正确熟练操作本试验机
u 操作人员掌握本试验机日常保养维护方法
u 操作人员掌握本试验机简单故障排除等技能
6.2保修期：整机 年 ,保修期自验收合格之日起计，如果非设备故障原因导致验收时间延迟，质保期从设备验收合格之日开始计算
6.3质保期以后：及时向用户提供易损件及配件